Bajo el lema "Challenges and Opportunities in Testing and Assessment in a Globalized Economy" ("Retos y oportunidades de la aplicación de test y de la evaluación en una economía globalizada"), la International Test Comisión (ITC) -Comisión Internacional de Test- celebrará el próximo año 2010 la séptima edición de su congreso anual –7th Conference of The International Test Commission-. La cita tendrá lugar en Hong Kong del 18 al 21 de julio de 2010.

Este congreso, que constituye un encuentro satélite del 27th Congreso Internacional de Psicología Aplicada, es el evento más importante para los diferentes campos de la evaluación psicológica y la psicometría, puesto que es el punto de encuentro internacional en el que especialistas y expertos en el área, como Robert Roe, John Hattie o Fanny M. Cheong, entre otros, expondrán, a través de talleres, ponencias, simposios, comunicaciones, pósters, etc., los últimos conocimientos y avances científicos en sus diferentes áreas.

El próximo 1 de diciembre de 2009 finaliza el plazo para el envío de comunicaciones y simposios, así como el plazo para la inscripción temprana termina el 1 de abril de 2010. Para más información, consultar la página Web del congreso (http://www.itc2010hk.com) o bien contactar con el comité organizador a través del la siguiente dirección de correo electrónico: itc2010@psy.cuhk.edu.hk.

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